[发明专利]横向扩散金属氧化物半导体元件的制作方法无效
| 申请号: | 200910205196.7 | 申请日: | 2009-10-16 |
| 公开(公告)号: | CN102044441A | 公开(公告)日: | 2011-05-04 |
| 发明(设计)人: | 黄柏睿 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L21/265 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 邱军 |
| 地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明公开了一种横向扩散金属氧化物半导体元件的制作方法。首先,提供具有第一导电类型的基板,基板中具有具有第二导电类型的井区。然后,在井区中形成基体掺杂区,以及在基体掺杂区中形成通道定义掺杂区。基体掺杂区具有第一导电类型,且通道定义掺杂区具有第二导电类型,使位于通道定义掺杂区与井区间且未被通道定义掺杂区覆盖的基体掺杂区构成横向扩散金属氧化物半导体元件的通道。之后,在通道上形成栅极结构。由此,可避免因栅极结构的错位所造成的通道变化。 | ||
| 搜索关键词: | 横向 扩散 金属 氧化物 半导体 元件 制作方法 | ||
【主权项】:
一种横向扩散金属氧化物半导体元件的制作方法,其包括:提供基板,该基板中具有井区,且该基板具有第一导电类型,而该井区具有第二导电类型;在该井区中形成基体掺杂区,以及在该基体掺杂区中形成通道定义掺杂区,该基体掺杂区具有该第一导电类型,且该通道定义掺杂区具有该第二导电类型,其中位于该通道定义掺杂区与该井区间且未被该通道定义掺杂区覆盖的该基体掺杂区构成该横向扩散金属氧化物半导体元件的通道;以及在该通道上形成栅极结构。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联华电子股份有限公司,未经联华电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910205196.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:芯片封装体
- 下一篇:自对准金属硅化物的形成方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





