[发明专利]微带传输线阻抗参数测试方法

摘要

本发明公开了一种微带传输线阻抗参数测试方法，通过工作频率f＞(R/2.81L)Hz的小电感小电容精密参数测试仪和包含两对具有测试探针和接地探针的测试电缆，以及由两条间距大于2倍线宽的无耦合微带传输线组成的单端阻抗测试条和两条相互耦合的微带传输线组成的差分阻抗测试条的使用，通过本发明的测试方法可准确地测出计算微带传输线阻抗的全部分布参数，实现用分布参数法精确测试微带传输线特性阻抗的目的。

主权项

1、微带传输线阻抗参数测试方法，包括下列步骤：a、采用工作频率的小电感小电容精密参数测试仪和两对分布参数阻抗测试电缆，每对电缆具有测试探针和接地探针，用以对单端阻抗测试条和耦合差分阻抗测试条的微带传输线分布参数进行测试，进而计算出微带传输线单端阻抗和耦合差分阻抗；b、对参数测试仪进行短路和开路校正；c、确定接地探针当作测试测针使用时的校正系数K值：将两测试探针接地，两接地探针连接任一微带传输线两端测其电感值，然后两接地探针接地，两测试探针测试相同微带传输线的电感值，有：K＝接地探针测试值/测试探针测试值；d、测试微带传输线单端阻抗的分布电感值L，测试耦合微带传输线差分阻抗的分布自电感L_self与分布耦合互电感L_m之差值L_self-L_m时：两接地探针和两测试探针分别连接一条微带传输线进行测试，分别得到(1+K)L和(1+K)(L_self-Lm)；e、测试微带传输线单端阻抗的分布电容C，测试耦合微带传输线差分阻抗线的分布自电容C_self时，将两测试探针分别连接单端阻抗测试条或耦合差分阻抗测试条中任一微带线的测试孔和接地孔，并将两接地探针短接即可测得单端阻抗的分布电容C和耦合差分阻抗线的分布自电容C_self；f、测试耦合差分阻抗线的互电容C_m时，将两测试探针分别连接一条微带线的测试孔，两接地探针分别连接接地孔，测出两线之间的互电容C_m；g、根据公式计算出单端阻抗Z和耦合差分阻抗线的差分阻抗Z_diff，Z=(1+K)L(1+K)C=LC,]]>Zdiff=2(1+K)(Lself-Lm)(1+K)(Cself+2Cm)=2Lself-LmCself+2Cm.]]>