[发明专利]封装工艺及封装结构有效

专利信息
申请号: 200910174057.2 申请日: 2009-10-20
公开(公告)号: CN102044447A 公开(公告)日: 2011-05-04
发明(设计)人: 沈启智;陈仁川;潘彦良 申请(专利权)人: 日月光半导体制造股份有限公司
主分类号: H01L21/50 分类号: H01L21/50;H01L21/56;H01L21/78;H01L25/00;H01L23/31
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 邱军
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种封装工艺及封装结构。该封装工艺如下所述。首先,提供承载板,承载板上配置有粘着层。接着,将多个第一半导体元件配置于粘着层上。然后,在承载板上形成第一封装胶体,第一封装胶体覆盖第一半导体元件的侧壁并填满第一半导体元件之间的间隙,以使第一半导体元件与第一封装胶体形成芯片阵列板。之后,将多个第二半导体元件分别倒装接合至第一半导体元件上。接着,在芯片阵列板上形成第二封装胶体,第二封装胶体至少覆盖第二半导体元件的侧壁并填满第二半导体元件之间的间隙。然后,分离芯片阵列板与粘着层。之后,沿着第二半导体元件之间的间隙切割第二封装胶体与第一封装胶体。
搜索关键词: 封装 工艺 结构
【主权项】:
一种封装工艺,包括:提供承载板,该承载板上配置有粘着层;将多个第一半导体元件配置于该粘着层上,且该多个第一半导体元件彼此分离并分别透过该粘着层固定于该承载板上;在该承载板上形成第一封装胶体,该第一封装胶体覆盖该多个第一半导体元件的侧壁并填满该多个第一半导体元件之间的间隙,以使该多个第一半导体元件与该第一封装胶体形成芯片阵列板;将多个第二半导体元件分别倒装接合至该多个第一半导体元件上;在该芯片阵列板上形成第二封装胶体,该第二封装胶体至少覆盖该多个第二半导体元件的侧壁并填满该多个第二半导体元件之间的间隙;分离该芯片阵列板与该粘着层;以及沿着该多个第二半导体元件之间的间隙切割该第二封装胶体与该第一封装胶体,以形成多个芯片封装单元。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日月光半导体制造股份有限公司,未经日月光半导体制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910174057.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top