[发明专利]X射线检查装置有效
| 申请号： | 200910168593.1 | 申请日： | 2009-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN101661007A | 公开（公告）日： | 2010-03-03 |
| 发明（设计）人： | 株本隆司 | 申请（专利权）人： | 株式会社石田 |
| 主分类号： | G01N23/02 | 分类号： | G01N23/02;G01N23/04 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 | 代理人： | 龙 淳 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种通过向操作者提供变更基准值(阈值)的设定时的指标、能够有效地进行变更基准值设定操作的X射线检查装置。该X射线检查装置具有存储单元，存储通过对多个物品进行检查、在X射线检测部取得的关于X射线强度的多个检测数据；设定单元，设定与在对多个物品进行检查中使用的实际基准值不同的假想基准值，作为规定的基准值；判定单元，根据假想基准值与存储单元中存储的各检测数据的比较结果，判定在各物品内是否有异物混入；计算单元，算出假想异物混入率，作为通过判定单元判定为有异物混入的物品的个数占多个物品的总数的比例；和显示控制单元，使假想异物混入率显示在显示部上。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 检查 装置 | ||
【主权项】：
1.一种X射线检查装置，其从X射线照射部向物品照射X射线，通过X射线检测部检测出透过物品的X射线，根据在所述X射线检测部检测到的X射线的强度与规定的基准值的比较结果，判定物品的良或不良，该X射线检查装置的特征在于，包括：存储单元，其存储通过对多个物品进行检查、在所述X射线检测部取得的关于X射线强度的多个检测数据；设定单元，其设定与在检查所述多个物品中使用的实际基准值不同的假想基准值，作为所述规定的基准值；判定单元，其根据所述假想基准值与所述存储单元中存储的各检测数据的比较结果，判定在各物品内是否有异物混入；计算单元，其算出假想异物混入率，作为通过所述判定单元判定为有异物混入的物品的个数占所述多个物品的总数的比例；和显示控制单元，其使所述假想异物混入率显示在显示部上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社石田，未经株式会社石田许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200910168593.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：容器和装置
- 下一篇：以八种方式切削的切削镶片以及用于这种切削镶片的刀夹具
