[发明专利]X射线检查装置

权利要求书

1.一种X射线检查装置，其从X射线照射部向物品照射X射线，通过X 射线检测部检测出透过物品的X射线，根据在所述X射线检测部检测到的X 射线的强度与规定的基准值的比较结果，判定物品的良或不良，该X射线检查 装置的特征在于，包括：

存储单元，其存储通过对多个物品进行检查、在所述X射线检测部取得的 关于X射线强度的多个检测数据；

设定单元，其设定与在检查所述多个物品中使用的实际基准值不同的假想 基准值，作为所述规定的基准值；

判定单元，其根据所述假想基准值与所述存储单元中存储的各检测数据的 比较结果，判定在各物品内是否有异物混入；

计算单元，其算出假想异物混入率，作为通过所述判定单元判定为有异物 混入的物品的个数占所述多个物品的总数的比例；和

显示控制单元，其使所述假想异物混入率显示在显示部上。

2.如权利要求1所述的X射线检查装置，其特征在于：

所述多个物品是在实际运转的生产线中由所述X射线检查装置检查的物 品。

3.如权利要求1所述的X射线检查装置，其特征在于：

在所述显示部上一并显示根据所述实际基准值算出的实际异物混入率和 所述假想异物混入率。

4.如权利要求1所述的X射线检查装置，其特征在于：

使用多个检测算法，对每个检测算法都能够检测出异物，

所述设定单元对每个检测算法都能够设定所述假想基准值，

所述判定单元对每个检测算法都判定是否有异物混入，

所述计算单元对每个检测算法都算出所述假想异物混入率，

所述显示部显示每个检测算法的所述假想异物混入率。

5.如权利要求4所述的X射线检查装置，其特征在于：

物品的良或不良根据每个检测算法的是否有异物混入的判定结果进行判 定，

在所述显示部上一并显示每个检测算法的实际基准值以及对应于实际基 准值的不良数和不良率，每个检测算法的假想基准值以及对应于假想基准值的 不良数和不良率。

6.如权利要求1所述的X射线检查装置，其特征在于：

所述设定单元在所述显示部上能够设定所述假想基准值，

在所述显示部上显示所述假想基准值的设定所允许的界限值。

7.如权利要求1～6中任一项所述的X射线检查装置，其特征在于：

在所述显示部上显示从所述X射线照射部照射的X射线的强度。