[发明专利]X射线荧光光谱混合压片法测定无碱玻璃化学成分的方法有效
申请号: | 200910154962.1 | 申请日: | 2009-12-07 |
公开(公告)号: | CN101713751A | 公开(公告)日: | 2010-05-26 |
发明(设计)人: | 张毓强;陆海泉;陈建良;许炳强;仰丽琴 | 申请(专利权)人: | 巨石集团有限公司 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223;G01N1/28;G01N1/38 |
代理公司: | 杭州天正专利事务所有限公司 33201 | 代理人: | 黄美娟;王兵 |
地址: | 314500 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种X射线荧光光谱混合压片法测定无碱玻璃化学成分的方法,所述的测定方法包括下列步骤:(1)将无碱玻璃产品进行预处理;(2)制样;(3)制作无碱玻璃各化学成分的被测元素对应的校准曲线;(4)测量并计算结果;步骤(2)所述的制样按照如下进行:以甲基纤维素为粘结剂,将无碱玻璃标准品或无碱玻璃样品与甲基纤维素按照质量比9~10∶1混合,加入2滴无水乙醇后,在机械振动磨中磨制100~130秒,磨制完成后,在压片机上设置2~3吨的压力,压制时间为20~30秒,制成相应的标准样片或样片。本发明采用X射线荧光光谱仪法,主要通过对无碱玻璃的制样方法的设计,实现了快速、准确、定量测定无碱玻璃各化学成分含量。 | ||
搜索关键词: | 射线 荧光 光谱 混合 压片 测定 玻璃 化学成分 方法 | ||
【主权项】:
一种X射线荧光光谱混合压片法测定无碱玻璃化学成分的方法,所述无碱玻璃的化学成分包括SiO2、Al2O3、Fe2O3、CaO、MgO、K2O、Na2O、TiO2、F、B2O3,所述的测定方法包括下列步骤:(1)将无碱玻璃产品进行预处理得到无碱玻璃标准品或无碱玻璃样品;(2)将无碱玻璃标准品或无碱玻璃样品制样,得到相应的无碱玻璃标准样片或无碱玻璃样片;(3)制作无碱玻璃中各化学成分SiO2、Al2O3、Fe2O3、CaO、MgO、K2O、Na2O、TiO2、F、B2O3的被测元素对应的校准曲线;(4)测量无碱玻璃样片中各化学成分的被测元素的X射线荧光强度,并根据各化学成分的被测元素对应的校准曲线计算出无碱玻璃样品中各化学成分的含量;其特征在于步骤(2)所述的制样按照如下进行:以甲基纤维素为粘结剂,将无碱玻璃标准品或无碱玻璃样品与甲基纤维素按照质量比9~10∶1混合,加入1~2滴无水乙醇后,在机械振动磨中磨制100~130秒,磨制完成后,在压片机上设置2~3吨的压力,压制时间为20~30秒,制成相应的无碱玻璃标准样片或无碱玻璃样片。
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