[发明专利]变温肖特基二极管特性测试仪无效

专利信息
申请号: 200910080023.7 申请日: 2009-03-17
公开(公告)号: CN101504439A 公开(公告)日: 2009-08-12
发明(设计)人: 贾春燕;刘国超;冉书能;孙鼎;蒋莹莹;荀坤;邢启江 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01M11/00
代理公司: 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 贾晓玲
地址: 100871北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种变温肖特基二极管特性测试仪,属于肖特基二极管测试技术领域。该测试仪包括一变温系统、一数据采集系统和一计算机控制系统,变温系统用于改变肖特基二极管的温度,测得温差电动势信号;数据采集系统用于对肖特基二极管样品的两端施加电压信号,收集肖特基二极管两端的电压数据和流过肖特基二极管的电流数据,以及获得温差电动势数据;计算机控制系统用于对数据采集系统进行控制,并根据数据采集系统的数据信息,计算出肖特基二极管的势垒高度qφb、有效理查德常数A**、理想因子n和串联电阻R。本发明可直接获得肖特基二极管的特性参数,提高了测量效率。
搜索关键词: 变温肖特基 二极管 特性 测试仪
【主权项】:
1、一种变温肖特基二极管特性测试仪,其特征在于,包括:一变温系统,用于改变肖特基二极管的温度,测得温差电动势信号;一数据采集系统,用于对肖特基二极管两端施加电压信号,收集肖特基二极管两端的电压数据和流过肖特基二极管的电流数据,以及获得温差电动势数据;和一计算机控制系统,用于对数据采集系统进行控制,并根据数据采集系统的数据信息,计算出肖特基二极管的势垒高度qφb、有效理查德常数A**、理想因子n和串联电阻R。
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