[发明专利]利用透射光谱法测量涂层UV隔离性的方法无效
申请号: | 200910067175.3 | 申请日: | 2009-06-24 |
公开(公告)号: | CN101929957A | 公开(公告)日: | 2010-12-29 |
发明(设计)人: | 王纳新;王希军;吴涛;高成勇;周胜蓝;张澍;廖大政 | 申请(专利权)人: | 中国第一汽车集团公司 |
主分类号: | G01N21/59 | 分类号: | G01N21/59;G01N1/28 |
代理公司: | 吉林长春新纪元专利代理有限责任公司 22100 | 代理人: | 王薇 |
地址: | 130011 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: |
本发明涉及一种利用透射光谱法测量涂层UV隔离性的方法,其特征在于:将准备好的带有涂层的载物片放置在测试光路中,将与其一组的参比片置入参考光路中;载物光束和参考光束都经过单色器并被相同的色散,然后通过出口狭缝聚焦到探测器上;当测试光通过被测涂层后,光源的强度由I0(λ)减小到了I(λ),光栅得到透过率光谱;根据公式 |
||
搜索关键词: | 利用 透射 光谱 测量 涂层 uv 隔离 方法 | ||
【主权项】:
利用透射光谱法测量涂层UV隔离性的方法,其特征在于:其具体方法如下第一步:通过测试光路测量涂层的吸收系数;光源发出的光到达第一块50%分束镜后,一半光线经载物片到达第二块50%BM2分束镜,另一半光线经反射镜M1、参比片、反射镜M2也到达第二块50%BM2分束镜,一并进入光栅,最后到达探测器;由探测器测得光强透过率;第二步:载物片的制备,分为新载物片制备即涂料涂覆在新的石英片和再利用载物片制备即经过清洗再次使用的石英片;具体的制备过程如下:A、新载物片的制备:1)取一组新的参比片和载物片,用洁净脱脂棉和镜头纸,沾少许光谱纯丙酮,单方向地轻轻擦拭,用高纯氮气吹干,待用;2)在载物片上用涂料线棒涂布,一般取湿漆膜20μm左右的线棒;按照涂料的标准工艺规范烘干;与其参比片放在一起,作为一组,做好标记;B、再利用载物片的制备:1)取参比片涂布和已有涂层的载物片上相同品种的涂料,按照涂料的标准工艺规范烘干,待用;2)把上述带有同一品种涂层的载物片和参比片,同时浸入溶剂中24h,去除涂膜;3)再浸入丙酮溶剂中24h,清洗,晾干;4)在载物片上用涂料线棒涂布,一般取湿漆膜20μm左右的线棒;按照涂料的标准工艺规范烘干;与其参比片放在一起,作为一组,做好标记;第三步:测试步骤1)将准备好的带有涂层的载物片放置在测试光路中,将与其一组的参比片置入参考光路中;2)载物光束和参考光束都经过光栅并被相同的色散,然后通过出口狭缝聚焦到探测器上;3)当测试光通过被测涂层后,光源的强度由I0(λ)减小到了I(λ),光栅得到透过率光谱;4)根据公式(2)通过计算得到涂层吸收系数: α ( λ ) = 1 L ln I 0 ( λ ) I ( λ ) = - ln T ( λ ) L 10 4 - - - ( 2 ) 其中:α(λ)为涂层的吸收系数;L为涂层厚度,常用单位为微米;T(λ)为光强透过率,常用百分数表示(%)。5)建立膜厚、入射波长与涂层透过率间关系的光谱模型,得到涂层厚度、入射波长与涂层透过率一一对应关系;公式(2)变形为公式(3)也比较常用。 L s = - ln T ( λ ) α ( λ ) 10 4 - - - ( 3 ) .
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国第一汽车集团公司,未经中国第一汽车集团公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910067175.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:融合大屏幕的图像显示方法及系统
- 下一篇:密封单元单元和间隔装置