[发明专利]一种测量InGaAs探测器偏振敏感响应的装置

摘要

本发明公开了一种测量InGaAs探测器偏振敏感响应的装置，它由光源系统、偏振态控制系统、光阑、待测InGaAs探测器、电流放大器和示波器组成，其中偏振态控制系统由两个格兰-汤普森棱镜组成，用于产生纯净的线偏振光；待测InGaAs探测器置于一侧开孔的圆形柯伐管壳中，并且将光源系统、偏振态控制系统、光阑和待测InGaAs探测器置于光、热屏蔽罩中，通过旋转探测器的方式，使不同振动方向的线偏振光入射到探测器的光敏面上，可得到正入射和斜入射情况下InGaAs探测器的偏振敏感响应。本发明的装置和方法简捷实用、测试精度高，并可推广应用到可见光探测器的偏振敏感响应测试中。

主权项

1.一种测量InGaAs探测器偏振敏感响应的装置，主要包括光源系统(1)、偏振态控制系统(2)、光阑(3)、电流放大器(5)和示波器(6)，其特征在于：由光源系统(1)出射的光经偏振态控制系统(2)后变为纯净的线偏振光，经光阑(3)后垂直入射到安装在柯伐管壳(9)内的待测探测器(4)上，探测器(4)的输出信号经电流发大器(5)放大后，在示波器(6)上显示出来；通过在YZ平面内旋转柯伐管壳(9)，就可在保持入射偏振光功率的情况下得到待测探测器(4)对不同振动方向线偏振光的响应度，从而得到正入射情况下，器件的偏振敏感响应；测量斜入射下器件的偏振敏感响应通过以下方法获得：首先在XZ平面内将柯伐管壳(9)旋转一定的角度，使入射线偏振光斜入射到待测探测器(4)的光敏元上，然后以垂直于光敏元平面的方向为轴旋转待测探测器(4)，即可得到斜入射情况下器件的偏振敏感响应。