[发明专利]一种用MOS工艺结构集成的二极管芯片有效

专利信息
申请号: 200910029292.0 申请日: 2009-04-08
公开(公告)号: CN101515584A 公开(公告)日: 2009-08-26
发明(设计)人: 王毅;谢盛达 申请(专利权)人: 扬州扬杰电子科技有限公司
主分类号: H01L27/105 分类号: H01L27/105;H01L29/78;H01L29/423;H01L31/02
代理公司: 北京连和连知识产权代理有限公司 代理人: 奚衡宝
地址: 225008江苏省扬州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种用MOS工艺结构集成的二极管芯片。涉及一种由多个单元集成的二极管芯片。本发明芯片的硅片中集成有若干个含有8个半导体管的“细胞”电路,每个半导体管中均设有栅(G)、源(S)、漂移区、漏(D),所述的栅(G)、源(S)短接;在硅片两面设正极面铝钛镍银金属层、负极面铝钛镍银金属层,所述栅(G)嵌入正极面铝钛镍银金属层的底面,所述漏(D)接触负极面铝钛镍银金属层的顶面。本发明采用MOS工艺结构设计制造,根据MOC场效应晶体管P沟道器件效应原理,设计成柵-源短路新型结构。正向导通压降小、正向导通功耗及发热量小、电流通过能力强、反向漏电流小、反向高温特性好和具有较强抗静电抗雷电能力。
搜索关键词: 一种 mos 工艺 结构 集成 二极管 芯片
【主权项】:
1、一种用MOS工艺结构集成的二极管芯片,其特征在于,所述芯片的硅片中集成有若干个含有8个半导体管的“细胞”电路,每个半导体管中均设有栅(G)、源(S)、漂移区、漏(D),所述的栅(G)、源(S)短接;在硅片两面设正极面铝钛镍银金属层、负极面铝钛镍银金属层,所述栅(G)嵌入正极面铝钛镍银金属层的底面,所述漏(D)接触负极面铝钛镍银金属层的顶面。
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