[发明专利]形成包封器件和结构的方法有效

专利信息
申请号: 200910008213.8 申请日: 2004-06-25
公开(公告)号: CN101488464A 公开(公告)日: 2009-07-22
发明(设计)人: 斯蒂夫·圣·杰曼;迈克尔·J·塞登 申请(专利权)人: 半导体元件工业有限责任公司
主分类号: H01L21/50 分类号: H01L21/50;H01L21/56;H01L21/58;H01L21/60;H01L23/544
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 杨国权
地址: 美国亚*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明公开了一种形成包封器件和结构的方法。在一个实施例中,一种电子器件封装(1)包括具有标记(3)的引线框(2)。电子芯片(8)用单元片附着层(9)附着于标记(3)。具有完全侧壁的沟道(16)形成于电子芯片(8)附近的标记(3)内,并包围芯片(8)的外周。包封层(19)覆盖芯片(8)、标记(3)的一部分和弯曲沟道(16)的至少一部分。弯曲沟道(16)减小了芯片附着期间单元片附着材料通过标记(3)的扩散,其减小了芯片和封装破裂问题,并改善了包封层(19)的粘着。弯曲沟道(16)的形状防止单元片附着材料流入弯曲沟道(16)内,这允许包封层(19)粘着于弯曲沟道(16)的表面。
搜索关键词: 形成 器件 结构 方法
【主权项】:
1. 一种用于形成电子器件封装的方法,其特征在于,包括如下步骤:提供支持基片,其包括标记和形成于标记键合表面中的第一连续沟道,其中,第一连续沟道延伸进所述标记的仅一部分,以及其中第一连续沟道具有连续圆形的剖面形状、弯曲侧壁表面以及内缘;用单元片附着材料将具有第一周边的第一电子芯片附着于键合表面,同时使用第一连续沟道限制单元片附着材料在键合表面上的流动,其中第一周边与所述内缘对准,并且其中第一连续沟道围绕第一电子芯片;和用保护层覆盖第一电子芯片和标记部分,其中保护层覆盖弯曲侧壁表面的至少一部分。
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