[发明专利]形成抗蚀剂下层膜的组合物和采用该形成抗蚀剂下层膜的组合物形成抗蚀剂图案的方法有效
申请号: | 200880111027.0 | 申请日: | 2008-10-16 |
公开(公告)号: | CN101821677A | 公开(公告)日: | 2010-09-01 |
发明(设计)人: | 坂本力丸;广井佳臣;石田智久;远藤贵文 | 申请(专利权)人: | 日产化学工业株式会社 |
主分类号: | G03F7/11 | 分类号: | G03F7/11;C08G59/14;H01L21/027 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 段承恩;陈海红 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的目的在于提供用于形成干蚀刻速度的选择比大、且在诸如ArF准分子激光的短波长下的k值和折射率n显示期望值的抗蚀剂下层膜的组合物。该形成光刻用抗蚀剂下层膜的组合物包含线状聚合物和溶剂,所述线状聚合物的主链具有介由酯键和醚键引入了2,4-二羟基苯甲酸的单元结构。 | ||
搜索关键词: | 形成 抗蚀剂 下层 组合 采用 图案 方法 | ||
【主权项】:
一种形成光刻用抗蚀剂下层膜的组合物,包含线状聚合物和溶剂,所述线状聚合物的主链具有介由酯键和醚键引入了2,4-二羟基苯甲酸的单元结构。
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