[发明专利]物理量测量装置以及物理量测量方法无效

专利信息
申请号: 200880017242.4 申请日: 2008-05-23
公开(公告)号: CN101680760A 公开(公告)日: 2010-03-24
发明(设计)人: 山下昌哉;北村彻 申请(专利权)人: 旭化成微电子株式会社
主分类号: G01C17/38 分类号: G01C17/38;G01P15/18;G01P21/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所 代理人: 刘新宇;陈立航
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种物理量测量装置,即使不是在作为测量对象的矢量物理量的大小均匀的空间内获取的测量数据群也能够估计可靠性较高的偏移。能够进一步提高估计出的偏移的可靠性。反复检测由多个成分构成的矢量物理量来获取矢量物理量数据群,根据所获取的矢量物理量数据群来算出差矢量群,基于使用了所算出的该差矢量群的规定的评价式来估计所获取的矢量物理量数据群所包含的基准点。判断所算出的差矢量群是否适于基准点的估计,根据该判断结果仅输出规定的差矢量群用于上述基准点的估计。另外,使用差矢量群来判断估计出的基准点的可靠度,根据该判断结果仅将规定的基准点作为偏移而输出。
搜索关键词: 物理量 测量 装置 以及 测量方法
【主权项】:
1.一种物理量测量装置,用于测量物理量,其特征在于,具备:矢量物理量检测单元,其检测由多个成分构成的矢量物理量;数据获取单元,其通过反复获取所检测到的上述矢量物理量作为矢量物理量数据,来获取矢量物理量数据群;以及基准点估计单元,其根据所获取的上述矢量物理量数据群算出差矢量群,基于使用了所算出的该差矢量群的规定的评价式来估计所获取的上述矢量物理量数据群所包含的基准点。
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