[发明专利]环境光传感器的散射光补偿无效
| 申请号: | 200880002940.7 | 申请日: | 2008-04-21 |
| 公开(公告)号: | CN101589477A | 公开(公告)日: | 2009-11-25 |
| 发明(设计)人: | B·J·哈德文;C·J·布朗;M·P·库尔森;P·希彼德 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
| 主分类号: | H01L31/10 | 分类号: | H01L31/10;G02F1/1335 |
| 代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 | 代理人: | 龙 淳 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明提供一种补偿具有检测光电传感器(7)和参考光电传感器(20)的光传感器中的散射光的方法,参考光电传感器(7)用于补偿投射在检测光电传感器(20)上的散射光。该方法包括至少部分地利用参考光电传感器(20)来确定施加到检测光电传感器(7)上的偏置电压。基于该方法,提供一种包括背光源和用于确定环境光等级的光传感器的显示装置,其中利用用于根据确定的环境光等级来控制背光源强度的装置,基本消除来自背光源的散射光的影响。 | ||
| 搜索关键词: | 环境 传感器 散射 补偿 | ||
【主权项】:
1.一种补偿具有检测光电传感器和参考光电传感器的光传感器中的散射光的方法,所述参考光电传感器用于补偿投射在所述检测光电传感器上的散射光,并且所述方法包括:至少部分地利用所述参考光电传感器来确定施加到所述检测光电传感器上的偏置电压。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于夏普株式会社,未经夏普株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200880002940.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





