[发明专利]层叠膜的缺陷检查方法及其装置

摘要

本发明提供层叠膜的缺陷检查方法及其装置。该方法包括：第1检查过程，检查被剥离了保护膜的膜主体的表面是否存在缺陷；分离膜除去过程，自检查后的层叠膜剥离分离膜；第2检查过程，一边沿着朝向纵向的膜行进路径引导被剥离除去了分离膜的膜主体、一边检查纵向姿态的膜主体是否存在缺陷，并存储检测数据；分离膜粘贴过程及保护膜粘贴过程，在检查完毕的膜主体的里面及表面上分别粘贴有分离膜及保护膜；膜回收过程，将粘贴有保护膜及分离膜的检查完毕的层叠膜卷成卷。

主权项

1. 一种层叠膜的缺陷检查方法，该层叠膜的缺陷检查方法用于对卷成卷的层叠膜的缺陷进行检查，其特征在于，包括：层叠膜抽出过程，自材料卷抽出在膜主体的表面上粘贴有保护膜、在膜主体的里侧粘着面上粘贴有分离膜的层叠膜；分离膜剥离过程，在沿着规定路径引导被抽出的上述层叠膜，并且直到自层叠膜剥离上述分离膜为止，至少在剥离时刻使分离膜剥离面朝下；检查过程，在使上述分离膜剥离面朝下地输送层叠膜的同时检查是否有缺陷，将该检查信息存储在存储部件中；分离膜粘贴过程，在使检查完毕的上述膜主体的分离膜的剥离面朝下的状态下，将分离膜粘贴在该剥离面上；层叠膜回收过程，将在上述膜主体的里面上粘贴分离膜而形成的检查完毕的层叠膜卷成卷而形成检查完毕的材料卷。