[实用新型]一种集成电路测试系统有效
| 申请号： | 200820150812.4 | 申请日： | 2008-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN201215580Y | 公开（公告）日： | 2009-04-01 |
| 发明（设计）人： | 包智杰;毛国梁;张书恒 | 申请（专利权）人： | 上海宏测半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海世贸专利代理有限责任公司 | 代理人： | 严新德 |
| 地址： | 200001上海市黄*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种集成电路测试系统，由上位控制机、背板接口电路、双独立总线电路和待测集成电路接口装置构成，背板接口电路上连接有电源，双独立总线电路与待测集成电路接口装置连接，背板接口电路与双独立总线电路之间连接有接口电路板，接口电路板与所述的上位控制机连接，背板接口电路与双独立总线电路之间还至少连接有一个功能测试电路板。接口电路板通过PCI总线与上位控制机连接。本实用新型将测试集成电路所需的全部资源集成在一台设备内，通过后台软件来管理这些资源，将用户的测试需求通过软件转换成测试程序。自动完成资源的分配和使用，实现集成电路参数的测试。解决了现有技术中集成电路测试装置测试频率低、系统资源有限和并行测试能力弱的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试 系统 | ||
【主权项】：
1. 一种集成电路测试系统，由一个上位控制机、一个背板接口电路、一个双独立总线电路和待测集成电路接口装置构成，其特征在于：所述的背板接口电路上连接有电源，所述的双独立总线电路与待测集成电路接口装置连接，背板接口电路与双独立总线电路之间连接有接口电路板，所述的接口电路板与所述的上位控制机连接，背板接口电路与双独立总线电路之间还至少连接有一个功能测试电路板。
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