[实用新型]一种集成电路测试系统

说明书

技术领域：

本实用新型涉及电学领域，尤其涉及集成电路，特别是一种集成电路测试系统。

背景技术：

现有技术中，集成电路测试装置采用排线出线方式，因此在数字测试频率方面，最高只能达到10MHz；在系统资源方面，由于总线资源和数量的限制，难以开发或者运行更多测试选件，如A/D、D/A的测试板，任意波形发生器等均不能引入；在并行测试能力方面，最多能实现4个测试位的并行测试能力。

实用新型内容：

本实用新型的目的在于提供一种集成电路测试系统，所述的这种集成电路测试系统置要解决现有技术中集成电路测试装置测试频率低、系统资源有限和并行测试能力弱的技术问题。

本实用新型的这种集成电路测试系统由一个上位控制机、一个背板接口电路、一个双独立总线电路和待测集成电路接口装置构成，其中，所述的背板接口电路上连接有电源，所述的双独立总线电路与待测集成电路接口装置连接，背板接口电路与双独立总线电路之间连接有接口电路板，所述的接口电路板与所述的上位控制机连接，背板接口电路与双独立总线电路之间还至少连接有一个功能测试电路板。

进一步的，所述的上位控制机中设置有PCI总线，所述的接口电路板通过PCI总线与上位控制机连接。

进一步的，所述的功能测试电路板是数字输入输出电路板。

进一步的，所述的功能测试电路板是16通道数字信号采集电路板。

进一步的，所述的上位控制机与所述的接口电路板之间设置有一个PCI接口模块，所述的PCI接口模块由控制器、计时器和目标PCI接口构成，所述的控制器、计时器和目标PCI接口相互连接，目标PCI接口与上位控制机的PCI总线连接。

本实用新型的工作原理是：本实用新型将测试集成电路所需的全部资源整合起来，集成在一台设备内。通过功能强大的后台软件来管理这些资源。提供方便灵活的人机交互界面，将用户的测试需求通过软件转换成测试程序。在上位计算机的控制下，自动完成资源的分配和使用，实现集成电路参数的测试。本实用新型采用通用的数据总线，各个功能测试电路板选件采用一致的电气和机械接口，不同的选件可以在总线槽任意位置插放。利用系统软件自动识别硬件类型，进行后台管理。除了接口电路板以外，其他任何可选功能测试电路板都可以实现灵活自由配置，并且由软性自动实现管理。本实用新型采用单一的待测集成电路接口装置，整个系统与待测集成电路接口装置集成，无需庞大的主机柜和连接线缆。整个系统只有电源和工控机传输线跟外围相连接。降低了系统的运行成本，提高了信号的稳定性，提高了机台的平均无故障时间。同时减少了设备的维护费用，获得更低的测试成本。

本实用新型采用PCI接口电路连接接口电路板和上位控制机连接，因此适合高速(50MHz矢量发生)数字测试、ADC/DAC等混合信号测试技术。具体测试过程如下：

直流测试：

测试器件的各种电压电流参数，确保其达到设计要求。包括管脚驱动能力，电源功耗，电压幅度，电流大小等等。

数字测试：

确保器件的预期逻辑功能能够正确的执行。根据不同的数字器件，测试其数字功能是否满足设计指标或者满足客户需求。

1)、测试方法选择：

根据不同的电路对象、故障对象以及可测试性设计方法的不同组合，选择不同的测试方法。

电路对象可划分为：组合电路，时序电路，存储器电路，射频电路等。

故障对象有：Stuck-at故障模型、跃迁故障模型、路径延时故障模型、IDDQ模型等。

可测性方法有：局部扫描设计、全扫描设计、内建自测试等等。

功能测试是20世纪70年代实用新型的一种测试方案，代表了第一代IC测试，应用非常广泛。功能测试的原理很简单，它采用仿真系统激励和响应的方案，通过模拟被测器件的实际工作情况来判定器件功能。它的优点是不增加芯片的成本。

扫描链测试：利用EDA工具自动产生可以在ATE上运行的测试向量，利用EDA工具自动诊断导致元器件失效的故障产生的原因。ATPG的优点是一方面ATPG工具针对故障模型生成高质量的测试向量，另一方面ATPG工具利用生成的测试向量进行故障仿真和测试覆盖率计算。