[实用新型]一种集成电路测试系统有效
| 申请号： | 200820150812.4 | 申请日： | 2008-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN201215580Y | 公开（公告）日： | 2009-04-01 |
| 发明（设计）人： | 包智杰;毛国梁;张书恒 | 申请（专利权）人： | 上海宏测半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海世贸专利代理有限责任公司 | 代理人： | 严新德 |
| 地址： | 200001上海市黄*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试 系统 | ||
【权利要求书】：
1.一种集成电路测试系统，由一个上位控制机、一个背板接口电路、一个双独立总线电路和待测集成电路接口装置构成，其特征在于：所述的背板接口电路上连接有电源，所述的双独立总线电路与待测集成电路接口装置连接，背板接口电路与双独立总线电路之间连接有接口电路板，所述的接口电路板与所述的上位控制机连接，背板接口电路与双独立总线电路之间还至少连接有一个功能测试电路板。
2.如权利要求1所述的集成电路测试系统，其特征在于：所述的上位控制机中设置有PCI总线，所述的接口电路板通过PCI总线与上位控制机连接。
3.如权利要求1所述的集成电路测试系统，其特征在于：所述的功能测试电路板是数字输入输出电路板。
4.如权利要求1所述的集成电路测试系统，其特征在于：所述的功能测试电路板是16通道数字信号采集电路板。
5.如权利要求1所述的集成电路测试系统，其特征在于：所述的上位控制机与所述的接口电路板之间设置有一个PCI接口模块，所述的PCI接口模块由控制器、计时器和目标PCI接口构成，所述的控制器、计时器和目标PCI接口相互连接，目标PCI接口与上位控制机的PCI总线连接。
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