[发明专利]芯片调试方法、系统和调试模块无效
| 申请号： | 200810246880.5 | 申请日： | 2008-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN101769988A | 公开（公告）日： | 2010-07-07 |
| 发明（设计）人： | 张明明;王军;阎斌;何晶 | 申请（专利权）人： | 易视芯科技(北京)有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 北京市德恒律师事务所 11306 | 代理人： | 梁永 |
| 地址： | 100086北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出一种芯片调试方法，包括以下步骤：调试模块接收微控制单元MCU发送的灌入指令和对应的灌数点，并将输入所述灌数点的灌入数据缓存在所述调试模块的写数据寄存器中；当所述写数据寄存器中缓存的所述灌入数据达到预定bit值时，所述调试模块将缓存的所述灌入数据输入所述灌数点中，同时向时钟模块发送时钟使能信号以在灌数时开启所述灌数点的时钟。在本发明中调试模块的逻辑控制由MCU通过APB总线配置调试模块的寄存器实现，灌数和抓数方式简单灵活。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 调试 方法 系统 模块 | ||
【主权项】：
一种芯片调试方法，其特征在于，包括以下步骤：调试模块接收微控制单元MCU发送的灌入指令和对应的灌数点，并将输入所述灌数点的灌入数据缓存在所述调试模块的写数据寄存器中；当所述写数据寄存器中缓存的所述灌入数据达到预定bit值时，所述调试模块将缓存的所述灌入数据输入所述灌数点中，同时向时钟模块发送时钟使能信号以在灌数时开启所述灌数点的时钟。
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