[发明专利]用于测量偏振模色散矢量的方法和装置有效
| 申请号： | 200810242151.2 | 申请日： | 2008-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN101476975A | 公开（公告）日： | 2009-07-08 |
| 发明（设计）人： | 刘健;周俊强;董晖;黄治家 | 申请（专利权）人： | 深圳市杰普特电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01J4/00 |
| 代理公司： | 深圳创友专利商标代理有限公司 | 代理人： | 江耀纯 |
| 地址： | 518109广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了用于测量偏振模色散矢量的方法，包括以下步骤：使指定波长的光分别按照三种输入偏振态通过待测器件，三种输入偏振态满足线性无关；分别测量光通过待测器件后的三种输出偏振态，将三种输入偏振态和三种输出偏振态记录为一组计算数据；重复上述步骤，记录多个不同指定波长下的多组计算数据；和根据各组计算数据计算各指定波长下的米勒矩阵，并根据米勒矩阵计算待测器件的偏振模色散矢量。本发明还公开了采用该方法的测量装置。本发明能使测量过程中由波长和输入偏振态的调节而引入的误差降低，提高偏振模色散矢量的测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 偏振 色散 矢量 方法 装置 | ||
【主权项】：
1. 一种用于测量偏振模色散矢量的方法，其特征在于，包括以下步骤：A、使指定波长的光分别按照三种输入偏振态通过待测器件，所述三种输入偏振态满足线性无关；B、分别测量所述光通过所述待测器件后的三种输出偏振态，将所述三种输入偏振态和三种输出偏振态记录为一组计算数据；重复上述步骤A、B，记录多个不同指定波长下的多组计算数据；和C、根据各组计算数据计算各指定波长下的米勒矩阵，并根据所述米勒矩阵计算所述待测器件的偏振模色散矢量。
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