[发明专利]一种生长AlInN单晶外延膜的方法无效
申请号: | 200810225783.8 | 申请日: | 2008-11-12 |
公开(公告)号: | CN101736398A | 公开(公告)日: | 2010-06-16 |
发明(设计)人: | 卢国军;朱建军;赵德刚;刘宗顺;张书明;杨辉 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | C30B25/02 | 分类号: | C30B25/02;C30B29/38 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种用氮气、氢气混合气作为载气生长高质量AlInN单晶外延膜的方法,包括如下步骤:选择一衬底;将衬底放入金属有机物化学气相沉积系统内,升温至生长温度,同时通入三甲基铟TMIn、三甲基铝TMAl、氨气NH3,氮气N2和适量氢气H2,生长出AlInN单晶外延膜。利用本发明,可以提高AlInN的结晶质量,并改善其表面形貌,提高其表面的平整度。 | ||
搜索关键词: | 一种 生长 alinn 外延 方法 | ||
【主权项】:
一种生长AlInN单晶外延膜的方法,其特征在于,包括如下步骤:选择一衬底;将衬底放入金属有机物化学气相沉积系统内,升温至生长温度,同时通入三甲基铟TMIn、三甲基铝TMAl、氨气NH3,氮气N2和适量氢气H2,生长出AlInN单晶外延膜。
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