[发明专利]一种脑中风相关位点检测方法有效
| 申请号： | 200810208221.2 | 申请日： | 2008-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN101760530A | 公开（公告）日： | 2010-06-30 |
| 发明（设计）人： | 陈奕雄;赵翊均 | 申请（专利权）人： | 上海基康生物技术有限公司 |
| 主分类号： | C12Q1/68 | 分类号： | C12Q1/68 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人： | 王洁 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种脑中风相关位点检测方法，包括步骤：提取来自人的样本的基因组DNA；根据至少2个脑中风相关基因分别设计一对Taqman探针对和一对引物对，所述Taqman探针对的5’端和3’端分别标记荧光报告基团和荧光淬灭基团，分别对所述基因组DNA进行荧光定量PCR扩增；根据荧光定量PCR扩增结果来判断所述脑中风相关基因是否发生突变，较佳的，所述脑中风相关基因的数目是4个，是MTHFR基因、ENOS基因、PDE4D基因和PON1基因，本发明的检测方法设计巧妙、操作简单、检测结果准确可靠，为是否进一步采取有针对性的健康管理以及后续的检测手段提供参考依据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 脑中风 相关 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种脑中风相关位点检测方法，其特征在于，包括步骤：a.提取来自人的样本的基因组DNA；b.根据至少2个脑中风相关基因分别设计一对Taqman探针对和一对引物对，所述Taqman探针对的5’端和3’端分别标记荧光报告基团和荧光淬灭基团，分别对所述基因组DNA进行荧光定量PCR扩增；c.根据荧光定量PCR扩增结果来判断所述脑中风相关基因是否发生突变。
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