[发明专利]凹入式沟道晶体管结构有效

专利信息
申请号: 200810109134.1 申请日: 2008-05-23
公开(公告)号: CN101587908A 公开(公告)日: 2009-11-25
发明(设计)人: 王哲麒;廖伟明 申请(专利权)人: 南亚科技股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/10;H01L27/108
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种凹入式沟道晶体管结构,包含一半导体基底;一沟槽绝缘区域,设于该半导体基底中,并定义出一有源区域;一栅极沟槽,设于该有源区域中,该栅极沟槽包含一垂直侧壁部分及一球型底部;一凹入式栅极,设于该栅极沟槽中,该凹入式栅极包含一球型栅极下部,位于该球型底部;一栅极氧化层,位于该球型底部;一源极掺杂区,位于该凹入式栅极一侧的该有源区域中;一漏极掺杂区,位于该凹入式栅极另一侧的该有源区域中;以及一沟道区域,介于该源极掺杂区与该漏极掺杂区之间,其中该沟道区域从一栅极沟道宽度方向来看,为一上凸的曲面轮廓。
搜索关键词: 凹入式 沟道 晶体管 结构
【主权项】:
1.一种凹入式沟道晶体管结构,包含有:半导体基底;沟槽绝缘区域,设于该半导体基底中,并定义出有源区域;栅极沟槽,设于该有源区域中,其中该栅极沟槽包含垂直侧壁部分以及球型底部;凹入式栅极,设于该栅极沟槽中,且该凹入式栅极包含球型栅极下部,位于该球型底部;栅极氧化层,位于该球型底部,介于该半导体基底与该球型栅极下部之间;源极掺杂区,位于该凹入式栅极一侧的该有源区域中;漏极掺杂区,位于该凹入式栅极另一侧的该有源区域中;以及沟道区域,介于该源极掺杂区与该漏极掺杂区之间,其中该沟道区域从栅极沟道宽度方向来看,为上凸的曲面轮廓。
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