[发明专利]遗留物检测方法及系统无效
| 申请号： | 200810065255.0 | 申请日： | 2008-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN101231696A | 公开（公告）日： | 2008-07-30 |
| 发明（设计）人： | 刘德健;赵勇 | 申请（专利权）人： | 安防科技（中国）有限公司 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00;G06T7/20 |
| 代理公司： | 深圳创友专利商标代理有限公司 | 代理人： | 郭燕 |
| 地址： | 518034广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种遗留物检测方法，包括以下步骤：检测不同于背景的前景图像，确定前景像素点，并将前景像素点特征化；对前景像素点特征化的持续状态进行计时，提取计时达到预设值的像素点；检测出由提取的像素点形成的连通区域，确定为待分析目标；分析目标的运动特性以确认是否为遗留物。本发明还公开了一种遗留物检测系统，包括目标检测装置、对像素点计时并提取特征化状态的持续时间达到预设值的像素点的计时处理装置、检测由提取的像素点形成的连通区域以确定待分析目标的连通区域检测装置、确定待分析目标是否为遗留物的目标分析装置。本发明能够准确提取目标的有效像素点，从而准确地判断被测目标是否为遗留物。 | ||
| 搜索关键词： | 遗留 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种遗留物检测方法，其特征在于包括以下步骤：A1、检测不同于背景的前景图像，确定前景像素点，并将前景像素点特征化；B1、对前景像素点特征化的持续状态进行计时，提取计时时间达到预设值的像素点；C1、检测出由提取的像素点形成的连通区域，并确定为待分析目标；D1、至少分析目标的运动特性以确认是否为遗留物。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安防科技（中国）有限公司，未经安防科技（中国）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200810065255.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：光刻机曝光系统
- 下一篇：一种治疗气虚型崩漏的中药制备方法
