[发明专利]稻米参数自动测量装置及方法

摘要

本发明涉及一种稻米参数自动测量装置及方法，本装置由预设的计算机控制，采用单株脱粒仪将稻穗脱粒，谷粒由单株脱粒仪通过直槽式接口落到皮带上，由运转的皮带分离谷粒；由X－ray成像系统拍摄X射线透射图，由计算机将所得图像进行处理，得到稻米的各项参数。本发明利用X射线成像的方法，用数字图像处理技术处理拍摄到的图像，得到稻米的各项参数，无需对脱粒后的谷粒进行去壳处理，且将脱粒、参数提取集成到一个系统中，具有安全无损、测量结果准确可靠，操作简单等优点。

主权项

1、稻米参数自动测量装置，包括光电开关(1)、可控升降板(2)、单株脱粒仪(3)、控制按钮(4)、射线源铅盒(5)、x射线源(6)、x射线探测器(7)、手动平移台(8)、皮带(9)、毛刷(10)、铅箱(11)、x射线源控制器(12)、计算机(13)、皮带控制器(14)，其特征在于：光电开关(1)分别与可控升降板(2)和计算机(13)相连，且光电开关(1)和可控升降板(2)位于单株脱粒仪(3)入口处，控制按钮(4)分别与可控升降板(2)及计算机(13)相连，X射线源(6)放置在铅盒(5)中，铅盒(5)置于皮带(9)上侧，铅盒朝向探测器一面的中部开有一圆形孔，X射线探测器(7)位于皮带(9)内侧，X射线探测器(7)通过螺钉固定在手动平移台(8)上，通过手动平移台(8)调节X射线探测器(7)的水平位置使得X射线源(6)和X射线探测器(7)位于同一垂直平面上，X射线源(6)与X射线源控制器(12)相连，X射线探测器(7)通过USB接口与与计算机(13)连接，射线源铅盒(5)、X射线源(6)、X射线探测器(7)、手动平移台(8)、皮带(9)及毛刷(10)都包在铅箱(11)内部，皮带(9)与皮带控制器(14)相连，毛刷(10)位于皮带(9)下部外侧。