[发明专利]一种利用热声技术无损在位检测低密度材料缺陷的方法及装置

摘要

本发明提供一种利用热声技术无损在位检测低密度材料缺陷的方法，包括下述步骤：采用脉冲微波由波导口入射到待测材料样品中，激发待测材料产生热声信号；涂有耦合剂的声探测器贴于材料表面，在微波发生器同向接收产生的热声信号；热声信号经过信号放大器放大后，采集并显示数据，采集的数据传输并储存到计算机中；利用计算机控制的步进电机驱动声探测器扫描，全方位接收信号；对采集的数据进行处理，得到待测材料样品的热声图像。一种实现上述方法的装置，包括微波发生组件、旋转扫描组件、声信号采集组件、计算机组件等。本发明克服了传统技术无法检测低密度材料缺陷的困难，具有定位准确，分辨率高的优点。本发明的装置造价较为低廉，易于推广。

主权项

1、一种利用热声技术无损在位检测低密度材料缺陷的方法，其特征在于包括下述步骤：(1)采用脉冲微波由波导口入射到待测材料样品中，激发待测材料产生热声信号；(2)涂有耦合剂的声探测器贴于材料表面，在微波发生器同向接收产生的热声信号；(3)所接收的热声信号经过信号放大器放大后，采集并显示数据，采集的数据传输并储存到计算机中；(4)利用计算机控制的步进电机驱动声探测器扫描，全方位接收信号；(5)对采集的数据进行处理，得到待测材料样品的热声图像。