[发明专利]内埋电容元件结构及其制造方法有效
申请号: | 200710164048.6 | 申请日: | 2007-10-11 |
公开(公告)号: | CN101141849A | 公开(公告)日: | 2008-03-12 |
发明(设计)人: | 王永辉;欧英德;洪志斌 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体制造股份有限公司 |
主分类号: | H05K1/16 | 分类号: | H05K1/16;H01L23/498;H01L21/48 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明是有关于一种内埋电容元件结构及其制造方法。该内埋电容元件结构包括:介电层、第一导电层、第二导电层、第一嵌板以及第二嵌板。其中介电层具有一厚度。第一导电层位于介电层的一侧,且具有第一电性。第二导电层位于介电层上相对于第一导电层的另一侧,且具有第二电性。第一嵌板嵌设于介电层之中,与第一导电层电性连结。第二嵌板嵌设于介电层之中,与第二导电层电性连结,且与第一嵌板相距有一段距离。 | ||
搜索关键词: | 电容 元件 结构 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种内埋电容元件结构,其特征在于包括:一介电层,具有一厚度;一第一导电层,位于该介电层的一侧,其中该第一导电层具有一第一电性;一第二导电层,位于该介电层上相对于该第一导电层的另一侧,其中该第二导电层具有一第二电性;一第一嵌板,嵌设于该介电层之中,与该第一导电层电性连结;以及一第二嵌板,嵌设于该介电层之中,与该第二导电层电性连结,且与该第一嵌板相距有一距离。
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