[发明专利]可编程存储器内建自测电路与时钟切换电路有效
申请号: | 200710161268.3 | 申请日: | 2007-09-25 |
公开(公告)号: | CN101399087A | 公开(公告)日: | 2009-04-01 |
发明(设计)人: | 张永嘉;林重甫 | 申请(专利权)人: | 智原科技股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/20 | 分类号: | G11C29/20 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 黄小临;周少杰 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种可编程存储器内建自测电路及时钟切换电路。通过指令解码器及内建测试控制器,提供更多可被使用者设定的自测功能,并简化传统技术中的冗余的电路,减小芯片面积以降低成本。并提出一些存储器周边的控制电路,占用更小面积,使存储器位置可被更灵活地测试。还提出一种时钟切换电路,使芯片可在高低不同速度的时钟下正确测试。以提高芯片中存储器的可测性与可分析性,进而提升错误涵盖率。 | ||
搜索关键词: | 可编程 存储器 自测 电路 时钟 切换 | ||
【主权项】:
1. 一种存储器内建自测电路,包括:指令解码器,用以接收控制信号;以及内建自测控制器,耦接于该指令解码器,用以接收该控制信号;其中若该控制信号为自测模式,则该指令解码器解码自测指令,该内建自测控制器根据该自测指令的解码结果测试存储器;若该控制信号为输出模式,则该指令解码器暂停操作,该内建自测控制器输出该存储器的测试记录;若该控制信号为正常模式,则该指令解码器暂停操作,该内建自测控制器传递功能电路的测试信号至该存储器。
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