[发明专利]冗余位线修复的选择方法及其装置有效
| 申请号： | 200710147207.1 | 申请日： | 2007-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN101377959A | 公开（公告）日： | 2009-03-04 |
| 发明（设计）人： | 陈宗仁 | 申请（专利权）人： | 晶豪科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/44 | 分类号： | G11C29/44;G11C17/16 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 王志森;黄小临 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明揭示一种冗余位线修复的选择方法，该方法包含下列步骤：于正规单元阵列中提供多个存储器区块的逻辑地址；产生多个附加熔丝信号；根据该各熔丝信号的状态产生一代码，且该代码对应于该存储器区块的缺陷状态；以及根据该代码于冗余单元阵列中选择出多个冗余区块来取代该存储器区块。该装置包含：一冗余修复启用电路，用以根据该存储器区块的逻辑地址产生一冗余启用信号；一控制熔丝电路，用以传送一对应于该存储器区块缺陷状态的代码；以及一冗余解码器电路，接收该冗余启用信号以及根据该代码来使冗余区块取代该正规单元阵列中的存储器区块。 | ||
| 搜索关键词： | 冗余 修复 选择 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
1、一种冗余位线修复装置，于一具有多个存储器区块以及一冗余单元阵列的正规单元阵列中执行位线修复，该冗余单元阵列含有多个冗余区块，该装置包含:一冗余修复启用电路，根据该存储器区块的逻辑地址产生一冗余启用信号；一控制熔丝电路，用以传递一对应该存储器区块的缺陷状态的代码，其中该缺陷状态为二邻接缺陷存储器区块、三邻接缺陷存储器区块、四邻接缺陷存储器区块以及二邻接缺陷存储器区块加上另二邻接缺陷存储器区块中的任一者；一冗余解码电路，接收该冗余启用信号以及该代码，用以于该冗余单元阵列中选出多个冗余区块来取代该正规单元阵列中的多个存储器区块。
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