[发明专利]冗余位线修复的选择方法及其装置有效

专利信息
申请号: 200710147207.1 申请日: 2007-08-30
公开(公告)号: CN101377959A 公开(公告)日: 2009-03-04
发明(设计)人: 陈宗仁 申请(专利权)人: 晶豪科技股份有限公司
主分类号: G11C29/44 分类号: G11C29/44;G11C17/16
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 王志森;黄小临
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 冗余 修复 选择 方法 及其 装置
【权利要求书】:

1.一种冗余位线修复装置,于一具有多个存储器区块的正规单元阵列以 及一具有多个冗余区块的冗余单元阵列中执行位线修复,该装置包含:

一冗余修复启用电路,根据该存储器区块的逻辑地址产生一冗余启用信 号,该冗余修复启用电路包含:

一启用熔丝电路,用以产生一启用熔丝信号,

多个熔丝状态电路,用以产生多个熔丝状态信号,以及

一冗余启用电路,接收该启用熔丝信号、该熔丝状态信号以及该存 储器区块的逻辑地址来产生该冗余启用信号;

一控制熔丝电路,用以传递一对应该存储器区块的缺陷状态的代码,其 中该缺陷状态为二邻接缺陷存储器区块、三邻接缺陷存储器区块、四邻接缺 陷存储器区块以及二邻接缺陷存储器区块加上另二邻接缺陷存储器区块中的 任一者,该控制熔丝电路可产生多个附加熔丝信号,且该代码通过该多个附 加熔丝信号的状态组合来决定;

一冗余解码电路,接收该冗余启用信号以及该代码,用以于该冗余单元 阵列中选出多个冗余区块来取代该正规单元阵列中的多个存储器区块,该冗 余解码电路包含:

多个第一编码电路,用以根据多个附加熔丝信号来产生多个第一信 号,

多个第四编码电路,各根据该存储器区块逻辑地址的二位来产生一 第二信号,

多个第五编码电路,各根据该第一信号、该第二信号以及一附加熔 丝信号来产生一冗余选择信号,以及

一第八编码电路,用以根据该冗余选择信号来产生一行禁用信号。

2.根据权利要求1的冗余位线修复装置,其中该存储器区块包含有将四 缺陷存储器区块分成二组的存储器区块。

3.根据权利要求1的冗余位线修复装置,其中各冗余区块包含有多条位 线以及与该多条位线相关的多个冗余存储器单元。

4.根据权利要求1的冗余位线修复装置,其中各冗余区块包含有多条字 符线以及与该多条字符线相关的多个冗余存储器单元。

5.根据权利要求1的冗余位线修复装置,其中该冗余启用电路可进一步 接收一附加熔丝信号来产生该冗余启用信号。

6.根据权利要求1的冗余位线修复装置,其中该代码通过该多个附加熔 丝信号的状态组合以及该存储器区块逻辑地址的一位来决定。

7.一种冗余位线修复的选择方法,于一具有多个存储器区块的正规单元 阵列以及一具有多个冗余区块的冗余单元阵列中执行位线修复,该方法包含 下列步骤:

于该正规单元阵列中提供多个存储器区块的逻辑地址;

通过一冗余修复启用电路根据该存储器区块的逻辑地址产生一冗余启用 信号,该冗余修复启用电路包含:

一启用熔丝电路,用以产生一启用熔丝信号,

多个熔丝状态电路,用以产生多个熔丝状态信号,以及

一冗余启用电路,接收该启用熔丝信号、该熔丝状态信号以及该存 储器区块的逻辑地址来产生该冗余启用信号;

产生多个附加熔丝信号;

根据该附加熔丝信号的状态产生一代码,且该代码对应该存储器区块的 缺陷状态,其中该缺陷状态为二邻接缺陷存储器区块、三邻接缺陷存储器区 块、四邻接缺陷存储器区块以及二邻接缺陷存储器区块加上另二邻接缺陷存 储器区块中的任一者;以及

通过一冗余解码电路接收该冗余启用信号以及该代码,用以于该冗余单 元阵列中选出多个冗余区块来取代该正规单元阵列中的多个存储器区块,该 冗余解码电路包含:

多个第一编码电路,用以根据多个附加熔丝信号来产生多个第一信 号,

多个第四编码电路,各根据该存储器区块逻辑地址的二位来产生一 第二信号,

多个第五编码电路,各根据该第一信号、该第二信号以及一附加熔 丝信号来产生一冗余选择信号,以及

一第八编码电路,用以根据该冗余选择信号来产生一行禁用信号。

8.根据权利要求7的冗余位线修复的选择方法,其中该存储器区块包含 有将四缺陷存储器区块分成二组的存储器区块。

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