[发明专利]弯折测量装置与导电板件弯折程度测量方法有效
| 申请号： | 200710110867.2 | 申请日： | 2007-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN101324419A | 公开（公告）日： | 2008-12-17 |
| 发明（设计）人： | 黄惟孝;蔡宗彬 | 申请（专利权）人： | 英业达股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/00 | 分类号： | G01B7/00;G01B7/28 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人： | 梁挥;祁建国 |
| 地址： | 中国台湾台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种弯折测量装置，包括：一基座，具有一平坦侧壁。第一导电块，具有一第一测量面，平行于该平坦侧壁。第二导电块，具有一第二测量面，平行于该平坦侧壁。第一测量面比第二测量面距离平坦侧壁更近。一电源，电性连接至第一导电块与第二导电块。一受测导电板件，具有一平坦区与一弯折区。发光源，电性连接至电源与受测导电板件。当受测导电板件以平坦区贴靠平坦侧壁滑行经过第一导电块与第二导电块时，通过弯折区是否触及第一测量面或第二测量面而使发光源发亮，以判断弯折区的弯折程度是否符合需求。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 装置 导电 板件弯折 程度 测量方法 | ||
【主权项】：
1、一种弯折测量装置，其特征在于，至少包含：一基座，具有一凹槽，且该凹槽具有一平坦侧壁；一第一导电块、一第二导电块，均设置于该凹槽周围，其中该第一导电块具有一第一测量面，平行于该平坦侧壁，该第二导电块具有一第二测量面，平行于该平坦侧壁，该第一测量面比该第二测量面距离该平坦侧壁更近；一电源，电性连接至该第一导电块与该第二导电块；一受测导电板件，具有一平坦区与一弯折区；一发光源，电性连接至该电源与该受测导电板件，当该受测导电板件以该平坦区贴靠该平坦侧壁滑行经过该第一导电块与该第二导电块时，通过该弯折区是否触及该第一测量面或该第二测量面而使该发光源发亮，以判断该弯折区的弯折程度是否符合需求。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英业达股份有限公司，未经英业达股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200710110867.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
