[发明专利]弯折测量装置与导电板件弯折程度测量方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测量装置及测量方法，特别是一种弯折测量装置与板件弯折的测量方法。

背景技术

现有技术在测量一板件弯折的弯折程度时，通常使用夹具加以测量。但是，用夹具测量会有一定的极限，这时由于夹具很难清楚的让眼睛分辨微小的尺寸，许多微小尺寸的测量在大量生产时便无法快速执行。所以，需要有创新的弯折测量装置与板件弯折的测量方法来解决上述的问题。

发明内容

本发明的目的在于，提供一种弯折测量装置与板件弯折的测量方法，以解决现有夹具测量板件弯折程度时的问题。

为了实现上述目的，本发明提出了一种弯折测量装置。该弯折测量装置包含以下组件：一基座，具有一凹槽，且该凹槽具有一平坦侧壁。一第一导电块、一第二导电块，设置于该凹槽周围。第一导电块具有一第一测量面，平行于该平坦侧壁。第二导电块具有一第二测量面，平行于该平坦侧壁。第一测量面比第二测量面距离平坦侧壁更近。一电源电性连接至第一导电块与该第二导电块。一受测导电板件，具有一平坦区与一弯折区。一发光源电性连接至电源与受测导电板件。当受测导电板件以平坦区贴靠平坦侧壁滑行经过第一导电块与第二导电块时，通过弯折区是否触及第一测量面或第二测量面而使发光源发亮，以判断弯折区的弯折程度是否符合需求。

本发明还提出了一种导电板件弯折程度的测量方法。提供一滑行平面。提供一第一测量面、一第二测量面，平行于滑行平面，且第一测量面比第二测量面距离滑行平面更近。提供一电源，电性连接至第一测量面与第二测量面。提供一发光源，电性连接至电源。使一受测导电板件以其平坦区贴靠滑行平面，并使其弯折区依序经过第二测量面与第一测量面，其中，受测导电板件电性连接至发光源。当受测导电板件滑行经过第二测量面而发光源未发亮，且受测导电板件滑行经过第一测量面而发光源发亮时，受测导电板件的弯折区的弯折程度介于第一测量面与第二测量面之间。

以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。

附图说明

图1为依照本发明一实施例的一种弯折测量装置的俯视图；

图2为依照本发明一实施例的一种弯折测量装置的侧视图。

其中，附图标记：

100-弯折测量装置

101-基座

102-凹槽

102a-侧壁

104-导电块

104a-测量面

106-导电块

106a-测量面

108-螺丝

109-螺丝

110-受测板件

110a-弯折区

110b-平坦区

112-电池

114-导线

115-导线

115a-导电夹

116-导线

118-发光源

120-方向

具体实施方式

本发明提供了一种弯折测量装置与板件弯折的测量方法，利用测量装置与受测板件所形成的电器回路是否能使回路上的发光源发亮，从而判断板件的弯折程度是否符合需求。

请参照图1与图2，其分别为依照本发明一实施例的一种弯折测量装置的俯视图与侧视图。该弯折测量装置100包含一基座101。基座101具有一凹槽102。凹槽102的其中一平坦侧壁102a作为受测板件110的滑行平面。导电块104与导电块106设置在凹槽102的周围且通过导线114电性连接至电源112(如一电池)。导电块104用螺丝108锁固于基座101，并同时固定导线114。导电块106用螺丝109锁固于基座101，并同时固定导线114。导电块104具有一测量面104a，平行于平坦侧壁102a。导电块106具有一测量面106a，平行于平坦侧壁102a。测量面104a距离平坦侧壁102a较近；测量面106a距离平坦侧壁102a较远。

当使用弯折测量装置100测量受测导电板件110时，受测导电板件110以其平坦区贴靠平坦侧壁沿方向120滑行，使受测导电板件110的弯折区110a依序经过导电块106与导电块104。测量面104a与测量面106a作为弯折区110a的弯折程度的测量范围。因此，测量面104a与测量面106a距离平坦侧壁102a的远近可根据需测量的范围作调整。