[发明专利]信息处理装置及其处理方法、半导体制造系统和存储介质有效

专利信息
申请号: 200710108521.9 申请日: 2007-05-31
公开(公告)号: CN101082817A 公开(公告)日: 2007-12-05
发明(设计)人: 小山典昭;小幡穣;王文凌 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: G05B19/04 分类号: G05B19/04;G05D23/19;H01L21/00
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种信息处理装置(100),处理作为关于对包含半导体的处理对象物进行与作为设定处理条件的值的设定值相应的处理的半导体制造装置(200)的处理时状态取得的值的取得值,包括:接受设定值的设定值接受部(101)、接受取得值的状态值接受部(102)、与作为表示设定值和取得值关系的函数的校正函数相应地算出取得值的校正量的校正量算出部(103)、利用校正量算出部(103)算出的校正量校正状态值接受部(102)接受的取得值的校正部(104)、和输出校正部(104)已校正的结果的输出部(105)。能够解决现有的信息处理装置中关于用不同的设定值进行的处理,难以容易地监视从各个半导体制造装置取得的值的问题。
搜索关键词: 信息处理 装置 及其 处理 方法 半导体 制造 系统 存储 介质
【主权项】:
1.一种信息处理装置,该信息处理装置处理作为关于半导体制造装置处理时的状态的值的状态值,该半导体制造装置对包含半导体的处理对象物进行与作为设定处理条件的值的设定值相应的处理,所述信息处理装置的特征在于,包括:接受所述设定值的设定值接受部;接受所述状态值的状态值接受部;利用作为表示所述设定值和所述状态值的校正量的关系的函数的校正函数,算出所述校正量的校正量算出部;利用所述校正量算出部算出的校正量校正所述状态值接受部接受的状态值的校正部;和输出所述校正部已校正的状态值的输出部。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东京毅力科创株式会社,未经东京毅力科创株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710108521.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top