[发明专利]具有在衬底之内包括氘的隔离结构的结构和相关方法无效

专利信息
申请号: 200710104746.7 申请日: 2007-04-25
公开(公告)号: CN101068017A 公开(公告)日: 2007-11-07
发明(设计)人: 程慷果;权五正;金德起;J·W·阿德基桑 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L21/762
代理公司: 北京市金杜律师事务所 代理人: 王茂华
地址: 美国纽*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 公开了具有包括氘的隔离结构的结构和相关方法。一种结构包括用于半导体器件的衬底,在衬底之内包括隔离结构,该隔离结构包括氘。衬底可以包括绝缘体上半导体衬底。一种方法可以包括步骤:在衬底中提供隔离结构,该隔离结构包括氘;和进行退火,以将氘扩散到衬底中(在形成栅电介质之前和/或之后)。这些结构和方法提供一种并入氘并且减少缺陷的更有效手段。另外,氘退火可以在生产线前端(FEOL)工艺期间栅电介质形成之前进行,以便可以使退火温度较高,以在减小的退火时间下改进氘并入。
搜索关键词: 具有 衬底 之内 包括 隔离 结构 相关 方法
【主权项】:
1.一种结构,包括:用于多个半导体器件的衬底,包括隔离结构,用于在所述衬底之内使各个器件相互隔离,所述隔离结构包括氘。
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