[发明专利]薄膜晶体管与像素结构及其制造方法无效
申请号: | 200710091534.X | 申请日: | 2007-03-27 |
公开(公告)号: | CN101060126A | 公开(公告)日: | 2007-10-24 |
发明(设计)人: | 颜士益;郑逸圣 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L23/522;H01L21/84;H01L21/768;G02F1/1362;G02F1/1343 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 任默闻 |
地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明是有关于一种薄膜晶体管与像素结构及其制造方法,该方法是先提供一基板,形成一具有一主动区及一储存电容区的半导体层于透光基板上,并于半导体层上形成一源极及一漏极,接着于源极、漏极及半导体层上形成一隔离层,再于隔离层上形成一栅极及一电容电极,栅极及电容电极分别设于与主动区及储存电容区的对应处上,并于栅极、电容电极及隔离层上依序形成一介电层及一屏蔽层,如此已形成一薄膜晶体管,接着于屏蔽层形成一开口图案进行刻蚀,进而形成一接触窗,最后形成一导电层于屏蔽层上,使得漏极通过接触窗与导电层电性连接,如此经上述步骤形成一像素结构,本发明的像素结构可增加其储存电容量,且不会降低开口率,又可防止金属外漏。 | ||
搜索关键词: | 薄膜晶体管 像素 结构 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种像素结构,其特征是,该像素结构包含:一基板;一半导体层,设置于该基板上,并包含一主动区及一储存电容区;一源极以及一漏极,设置于该半导体层上;一隔离层,设置于该源极、漏极以及半导体层上;一栅极,设置于该隔离层上并位于所述的主动区上方;一介电层,设置于该栅极上;一屏蔽层,设置于该介电层上,并包含一接触窗,该接触窗以暴露所述的漏极;及一导电层,设置于所述的屏蔽层上,并通过所述的接触窗与所述的漏极电性连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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