[发明专利]薄膜晶体管与像素结构及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200710091534.X 申请日: 2007-03-27
公开(公告)号: CN101060126A 公开(公告)日: 2007-10-24
发明(设计)人: 颜士益;郑逸圣 申请(专利权)人: 友达光电股份有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L23/522;H01L21/84;H01L21/768;G02F1/1362;G02F1/1343
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 任默闻
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明是有关于一种薄膜晶体管与像素结构及其制造方法,该方法是先提供一基板,形成一具有一主动区及一储存电容区的半导体层于透光基板上,并于半导体层上形成一源极及一漏极,接着于源极、漏极及半导体层上形成一隔离层,再于隔离层上形成一栅极及一电容电极,栅极及电容电极分别设于与主动区及储存电容区的对应处上,并于栅极、电容电极及隔离层上依序形成一介电层及一屏蔽层,如此已形成一薄膜晶体管,接着于屏蔽层形成一开口图案进行刻蚀,进而形成一接触窗,最后形成一导电层于屏蔽层上,使得漏极通过接触窗与导电层电性连接,如此经上述步骤形成一像素结构,本发明的像素结构可增加其储存电容量,且不会降低开口率,又可防止金属外漏。
搜索关键词: 薄膜晶体管 像素 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种像素结构,其特征是,该像素结构包含:一基板;一半导体层,设置于该基板上,并包含一主动区及一储存电容区;一源极以及一漏极,设置于该半导体层上;一隔离层,设置于该源极、漏极以及半导体层上;一栅极,设置于该隔离层上并位于所述的主动区上方;一介电层,设置于该栅极上;一屏蔽层,设置于该介电层上,并包含一接触窗,该接触窗以暴露所述的漏极;及一导电层,设置于所述的屏蔽层上,并通过所述的接触窗与所述的漏极电性连接。
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