[发明专利]用激光干涉法测量数控机床圆轨迹的方法有效
| 申请号： | 200710049397.3 | 申请日： | 2007-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN101096073A | 公开（公告）日： | 2008-01-02 |
| 发明（设计）人： | 羡一民;薛梅;黄绍怡;舒阳 | 申请（专利权）人： | 成都工具研究所 |
| 主分类号： | B23Q17/24 | 分类号： | B23Q17/24;G01B11/00;G01B11/03;G01B11/08 |
| 代理公司： | 成都立信专利事务所有限公司 | 代理人： | 冯忠亮 |
| 地址： | 610056四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明为用激光干涉法测量数控机床圆轨迹的方法，为数控机床的精度检测方法，解决已有检测方法精度不高，所用工具适用范围不广，操作不便的问题。位于数控机床工作台上的直角坐标机构将数控机床工作台与主轴的相对圆运动分解为X、Y两个方向的分量，用激光干涉仪测量出这两个分量值或它们的差值，根据测量值计算出圆运动的实际轨迹。 | ||
| 搜索关键词： | 激光 干涉 测量 数控机床 轨迹 方法 | ||
【主权项】：
1、用激光干涉法测量数控机床圆轨迹的方法，其特征在于位于数控机床工作台上的直角坐标机构将数控机床工作台与主轴的相对圆运动分解为X、Y两个方向的分量，用激光干涉仪测量出这两个分量值或它们的差值，根据测量值计算出圆运动的实际轨迹。
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