[发明专利]显示器件的测试装置、测试方法以及具有测试装置的基板无效
| 申请号： | 200710043664.6 | 申请日： | 2007-07-11 |
| 公开（公告）号： | CN101344650A | 公开（公告）日： | 2009-01-14 |
| 发明（设计）人： | 蒋顺;李治福 | 申请（专利权）人： | 上海天马微电子有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;H01L21/66 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201201上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于液晶显示装置的测试装置，该测试装置包括：阵列测试信号输入部，用以输入阵列测试信号；显示测试信号输入部，用以输入显示测试信号；显示测试信号控制部，用以控制显示测试信号的输入；测试总线，分别与阵列测试信号输入部和显示测试信号输入部相连，并且，当进行阵列测试时，显示测试信号控制部处于关闭状态。本发明还提供用于液晶显示装置的测试方法和基板。通过本发明可不需要增加额外的治工具或设备而实现阵列测试和显示测试的兼容。从而提高生产效率，并且节约生产成本。 | ||
| 搜索关键词： | 显示 器件 测试 装置 方法 以及 具有 | ||
【主权项】：
1.一种显示器件用测试装置，包括：阵列测试信号输入部，用以输入阵列测试信号；显示测试信号输入部，用以输入显示测试信号；显示测试信号控制部，用以控制显示测试信号的输入；测试总线，分别与所述阵列测试信号输入部和所述显示测试信号输入部相连，其中，当进行阵列测试时，所述显示测试信号控制部处于关闭状态。
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