[发明专利]显示器件的测试装置、测试方法以及具有测试装置的基板

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示制造过程中的测试装置和测试方法，以及用于液晶显示装置的基板，特别是涉及可以兼容不同测试的测试装置和测试方法，以及具有该测试装置的基板。

背景技术

目前液晶显示器测试主要有以下两种方法。

阵列测试方法。薄膜晶体管显示器(TFT-LCD)制造厂在阵列制程结束后进行阵列测试，测试合格的产品进入成盒(Cell)车间继续加工，如图1所示，图1为薄膜晶体管液晶显示器的阵列测试的示意图，其中，108为液晶显示器的显示部，107为液晶屏的切断位置，106为阵列测试线与端子引出部的连接部，阵列测试的奇偶信号测试总线分别与信号的奇数引出端和偶数引出端进行连接。101，102为扫描线测试信号输入点，103，104为信号线测试信号输入点，105为测试时基准电压(Vcom)输入点。阵列测试的奇偶信号在连接部106的位置分别与奇数引出端和偶数引出端连接。连接部106的连接方式如图2所示。

显示测试方法。TFT-LCD制造厂在成盒工序的封框胶(Seal)硬化了以后会进行简单的红绿蓝画面的目视检查。如图3所示，图3为显示测试的电路图，301为信号线的端子。302为301的引出线与显示测试线的连接部。303，304，305，306，307分别为显示测试的扫描电压，标准电压，红色像素信号输入点，绿色像素信号输入点，蓝色像素信号输入点。图4所示为引出线的连接方式：显示的信号引出线分别连接到304，305，306的测试信号输入线上。

在现有的两种测试方式中，阵列测试和显示测试都要进行，但是如图5所示，如果直接将引出线按图2和图4的方式连接在测试信号输入总线上将会使所有的测试输入信号线都形成短路。目前业内试图通过其他方法实现两种测试的兼容，但实现起来非常麻烦。从而降低了制造效率，增加了成本。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种液晶显示装置的测试装置以及测试方法，可以简单地实现在制造过程中，液晶显示装置的阵列测试和显示测试的兼容。

本发明要解决的另一技术问题是提供一种用于液晶显示装置的基板，通过该基板可以简单地完成液晶显示装置在制造过程中的阵列测试和显示测试的兼容。

为解决上述技术问题，本发明的显示器件用测试装置包括：阵列测试信号输入部，用以输入阵列测试信号；显示测试信号输入部，用以输入显示测试信号；显示测试信号控制部，用以控制显示测试信号的输入；测试总线，分别与阵列测试信号输入部和显示测试信号输入部相连，其中，当进行阵列测试时，显示测试信号控制部处于关闭状态。

作为本发明的一种优选方案，该测试装置中，阵列测试信号输入部包括阵列测试奇数信号输入部和阵列测试偶数信号输入部，并分别与奇数信号测试总线和偶数信号测试总线相连。

作为本发明的另一种优选方案，该测试装置中，对应于显示器件的基色数目，显示测试信号输入部具有多个，并分别与代表不同颜色像素的测试总线相连。

作为本发明的又一种优选方案，该测试装置中，显示测试信号控制部为薄膜晶体管。

作为本发明的再一个优选方案，该测试装置中，测试总线的根数为阵列测试信号输入部与显示测试信号输入部的最小公倍数。

为解决上述技术问题，本发明还提供一种显示器件用测试方法，其中该显示器件包括：阵列测试信号输入部，用以输入阵列测试信号；显示测试信号输入部，用以输入显示测试信号；显示测试信号控制部，用以控制显示测试信号的输入；测试总线，分别与阵列测试信号输入部和显示测试信号输入部相连，并且该测试方法包括以下步骤：将显示器件的数据线以奇偶对应和颜色像素对应的方式与测试装置的测试总线分别相连；关闭显示测试信号控制部，通过阵列测试信号输入部输入阵列测试信号，进行阵列测试；切割用于显示器件的基板，并使得阵列测试信号输入部被切掉；打开显示测试信号控制部，并输入显示测试信号进行显示测试。

为解决上述技术问题，本发明还提供用于显示器件的基板，其包括根据本发明的显示器件用测试装置。

本发明的优点在于：只需要在显示器件面板设计的时候把该测试装置设计进去，并采用该测试方法，即可在现有的测试设备的方法的基础上，不需要增加额外的治工具或设备而实现阵列测试和显示测试的兼容。从而提高生产效率，并且节约生产成本。

附图说明

图1为现有的阵列测试的示意图。

图2为现有的阵列测试线与端子引出部的连接方式示意图。

图3为现有的显示测试的示意图。