[发明专利]显示器件的测试装置、测试方法以及具有测试装置的基板无效
申请号: | 200710043664.6 | 申请日: | 2007-07-11 |
公开(公告)号: | CN101344650A | 公开(公告)日: | 2009-01-14 |
发明(设计)人: | 蒋顺;李治福 | 申请(专利权)人: | 上海天马微电子有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;H01L21/66 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201201上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 器件 测试 装置 方法 以及 具有 | ||
1.一种显示器件用测试装置,包括:
阵列测试信号输入部,用以输入阵列测试信号;
显示测试信号输入部,用以输入显示测试信号;
显示测试信号控制部,用以控制显示测试信号的输入;
测试总线,分别与所述阵列测试信号输入部和所述显示测试信号输入部相连,
其中,当进行阵列测试时,所述显示测试信号控制部处于关闭状态。
2.根据权利要求1所述的显示器件用测试装置,其中所述阵列测试信号输入部包括阵列测试奇数信号输入部和阵列测试偶数信号输入部,并分别与奇数信号测试总线和偶数信号测试总线相连。
3.根据权利要求1所述的显示器件用测试装置,其中对应于所述显示器件的基色数目,所述显示测试信号输入部具有多个,并分别与代表不同颜色像素的测试总线相连。
4.根据权利要求1所述的显示器件用测试装置,其中所述显示测试信号输入部包括红色像素信号输入部,绿色像素信号输入部和蓝色像素信号输入部,并分别与红色像素信号测试总线、绿色像素信号测试总线和蓝色像素信号测试总线相连。
5.根据权利要求1~4所述的显示器件用测试装置,其中所述显示器件为液晶显示装置,并且所述液晶显示装置的基色数为三种或三种以上。
6.根据权利要求1所述的显示器件用测试装置,其中所述显示测试信号控制部为薄膜晶体管。
7.根据权利要求1所述的显示器件用测试装置,其中所述测试总线的根数为阵列测试信号输入部与显示测试信号输入部的最小公倍数。
8.根据权利要求1所述的显示器件用测试装置,其中在所述阵列测试信号输入部和所述显示测试信号输入部之间设置切断线。
9.一种对于显示器件进行测试的测试方法,该显示器件包括:
阵列测试信号输入部,用以输入阵列测试信号;
显示测试信号输入部,用以输入显示测试信号;
显示测试信号控制部,用以控制显示测试信号的输入;
测试总线,分别与所述阵列测试信号输入部和所述显示测试信号输入部相连,
其中,所述测试方法包括以下步骤:
将显示器件的数据线以奇偶对应和颜色像素对应的方式与所述测试装置的测试总线分别相连;
关闭所述显示测试信号控制部,通过所述阵列测试信号输入部输入阵列测试信号,进行阵列测试;
切割用于显示器件的基板,并使得阵列测试信号输入部被切掉;
打开所述显示测试信号控制部,并输入显示测试信号进行显示测试。
10.一种用于显示器件的基板,其中包括权利要求1所述的测试装置。
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