[发明专利]目视检验仪中自动检测物品缺陷的方法和系统

摘要

提供了一种用于确定自动检验系统检验多个物品时的参数设定的方法。所述方法包括：由所述检验系统检验第一个物品，根据所给定的一组检验参数应用一种自动缺陷检验方法，得到一个初始缺陷图，根据一组预定的缺陷类型把所发现的缺陷按照缺陷类型进行分类拣选。在对缺陷进行分类拣选时，如果检测到所述检验系统不能识别的新缺陷，则把该新缺陷添加到被分类拣选的初始缺陷图中，并且通过应用计算专用算法，使用启发式方法，自动设置检验参数，以形成一个调整后的参数设定。随后使用所述调整后的参数设定获得所检测到的缺陷的一个调整后的缺陷图，并使用调整后的参数设定来检验所述多个物品中的其余物品。还提供了一种用于确定检验多个物品时的参数设定的系统。

主权项

1、一种用于确定自动检验系统检验多个物品时的参数设定的方法，所述方法包括下列步骤：由所述检验系统检验第一个物品；根据所给定的一组检验参数应用一种自动缺陷检验方法；得到一个初始缺陷图；根据一组预定的缺陷类型，把所发现的缺陷按照缺陷类型进行分类拣选；在对缺陷进行分类拣选时，如果检测到所述检验系统不能识别的新缺陷，则把所述新缺陷添加到所述被分类拣选的初始缺陷图中；通过应用计算专用算法，使用启发式方法，自动设置所述检验参数，以形成调整后的参数设定；使用调整后的参数设定获得检测到的缺陷的调整后的缺陷图，以及使用所述调整后的参数设定检验所述多个物品中的其余物品。