[发明专利]利用脉冲中子仪器的改进岩层密度指示器的方法和设备有效
| 申请号： | 200680018834.9 | 申请日： | 2006-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN102124379A | 公开（公告）日： | 2011-07-13 |
| 发明（设计）人： | W·阿兰·吉尔克里斯特 | 申请（专利权）人： | 贝克休斯公司 |
| 主分类号： | G01V5/10 | 分类号： | G01V5/10 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 蒋世迅 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种有脉冲中子源和三个或多个检测器的密度测井仪器，该仪器可以提供三个或多个测量结果。至少选取两对测量结果(253，259)以产生至少两个密度估算(255，261)，根据这两个密度估算，可以得到另一个密度估算(257)。这能够补偿中子源的变化，并提供用作钻孔校正和/或有套管校正的冗余测量结果。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 脉冲 中子 仪器 改进 岩层 密度 指示器 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种用于估算地下岩层密度的方法，该方法包括：(a)利用地球岩层中钻井内的中子源辐照地球岩层；(b)在钻井内的至少三个位置，检测由辐照在岩层中产生的γ射线；(c)对于该至少三个位置中的每个位置，从所述被检测的γ射线中产生响应信号；(d)根据至少两对响应信号，估算对应的密度；和(e)根据该至少两个密度估算，得到改进的岩层密度估算。
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