[实用新型]一种芯片测试卡定位台无效
| 申请号： | 200620049079.8 | 申请日： | 2006-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN201015833Y | 公开（公告）日： | 2008-02-06 |
| 发明（设计）人： | 龚伟平;张龙 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
| 主分类号： | B23Q3/18 | 分类号： | B23Q3/18;B23Q3/06 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 | 代理人： | 王洁 |
| 地址： | 2012*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种芯片测试卡定位台，用于在芯片测试卡圆孔加工过程中定位芯片测试卡，该定位台具有一放置所述芯片测试卡的工作基准面，该工作基准面上设有与所述芯片测试卡相适配的定位槽，只要将芯片测试卡置入该定位槽中，适当对芯片测试卡施加压力，芯片测试卡便不会相对工作基准面发生平移。此外，定位台的工作基准面中央具有一用于指示芯片测试卡中心位置的中心标记，用于帮助加工圆孔的铣刀对准芯片测试卡中心；定位台背面中央具有一定位部，以便与芯片测试卡定位台下方的回转工作台精确定位。通过上述设计，本实用新型的芯片测试卡定位台可避免加工后的芯片测试卡出现圆孔不圆、中心不准等现象。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 定位 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试卡定位台，用于在芯片测试卡圆孔加工过程中定位芯片测试卡，所述定位台具有一放置所述芯片测试卡的工作基准面，其特征在于：所述工作基准面上设有与所述芯片测试卡相适配的定位槽。
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