[发明专利]形成四方氧化锆层的方法及制造具有该层的电容器的方法无效

专利信息
申请号: 200610161039.7 申请日: 2006-12-04
公开(公告)号: CN101050522A 公开(公告)日: 2007-10-10
发明(设计)人: 吉德信;宋翰相;廉胜振;朴基善;卢载盛;金珍赫 申请(专利权)人: 海力士半导体有限公司
主分类号: C23C16/40 分类号: C23C16/40;C23C16/52;C23C16/513;C23C16/56
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 杨生平;杨红梅
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 一种在腔室中在衬底上形成氧化锆(ZrO2)层的方法,包括控制衬底的温度和重复原子层沉积(ALD)法的单元循环。单元循环包括:将锆(Zr)源供应到腔室中,使部分锆源吸附到衬底表面中;清洗残留在腔室内部的未吸附部分的锆源;供应反应气体,用于与吸附部分的锆源反应;清洗残留在腔室内部的未反应部分的反应气体和反应副产物,其中控制衬底的温度和反应气体的浓度,使得形成具有四方结构的ZrO2层。
搜索关键词: 形成 四方 氧化锆 方法 制造 具有 电容器
【主权项】:
1.一种在腔室中在衬底上形成ZrO2层的方法,包括;控制衬底的温度;和重复原子层沉积(ALD)法的单元循环,所述单元循环包括:将锆(Zr)源供应到腔室中,使部分锆源吸附至衬底表面中,清洗残留在腔室内部的部分锆源;供应反应气体,用于与吸附部分的锆源反应;和清洗残留在腔室内部的未反应部分的反应气体和反应副产物,其中控制衬底的温度和反应气体的浓度,使得形成具有四方结构的ZrO2层。
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