[发明专利]集成电路及其测试方法无效
| 申请号： | 200610143641.8 | 申请日： | 2006-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN1963552A | 公开（公告）日： | 2007-05-16 |
| 发明（设计）人： | 横田俊彦 | 申请（专利权）人： | 国际商业机器公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185;G01R31/28;G01R31/3187;H01L27/04 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 曲瑞 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明的目的是实现对不同时钟域之间的锁存器－至－锁存器路径(交叉域路径)的在速测试。为达到该目的，本发明提供一种集成电路及其测试方法，该集成电路包括：能够进行刷新并且利用第一时钟信号CLK1工作的第一触发器；利用第二时钟信号CLK2工作并且连接第一触发器的第二触发器DFF2；以及利用第二时钟信号CLK2工作并且连接第一触发器的第三触发器DFF3。以在接收通过第一触发器DFF1的第二触发器DFF2和第三触发器DFF3之间的时钟信号CLK2时释放并捕获测试数据，以及通过第一触发器DFF1刷新测试数据的方式，对第一和第二触发器之间的路径进行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 及其 测试 方法 | ||
【主权项】：
1、一种集成电路，包括：第一触发器，其能够进行刷新，并且利用第一时钟信号工作；第二触发器，其能够进行刷新、利用第二时钟信号工作、并且连接到第一触发器；第三触发器，其利用第二时钟信号工作，并且连接到第一触发器；以及第四触发器，其利用第一时钟信号工作，并且连接到第二触发器，其中，该集成电路按下述模式对第一和第二触发器之间的路径进行测试：测试数据在接收第二时钟信号时从第三触发器中被释放、通过第一触发器被刷新、并在第二触发器中被捕获的测试模式；以及测试数据在接收第一时钟信号时从第一触发器中被释放、通过第二触发器被刷新、并在第四触发器中被捕获的测试模式。
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