[发明专利]内嵌存储器芯片测试方法

摘要

本发明公开了一种内嵌存储器芯片测试方法，包括以下步骤，首先，对芯片进行初次测试；第二步，对初步测试正常并且测试结果为合格的芯片写入不同于存储器中原有数值的值，其他芯片保持原有的值；第三步，将测试通过的芯片剔除出复测列表，对其他芯片进行复测；第四步，对复测正常并且测试结果为合格的芯片写入不同于存储器中原有数值的值，其他芯片保持原有的值。本发明通过在初步测试正常并且测试结果为合格的芯片中写入特定的值，对测试正常芯片的测试结果予以保留，不再进行测试，避免了复测造成的另一次测试异常，节约测试成本，提高生产效率。

主权项

1.一种内嵌存储器芯片测试方法，其特征在于，包括以下步骤：第一步，对内嵌存储器芯片进行初次测试；第二步，判断初步测试结果，对初步测试正常并且测试结果为合格的芯片的内嵌存储器中客户不使用的区域写入不同于存储器中原有数值的值，对初步测试不正常或者测试结果为失效的芯片的内嵌存储器中相应位置保持原有的值；第三步，通过测试仪读取第一步中内嵌存储器芯片相应位置的值，若该值为写入的特定的值则将该芯片剔除出复测列表，若该值不为写入的特定的值则对该芯片进行复测；第四步，对复测正常并且测试结果为合格的芯片的内嵌存储器中客户不使用的区域写入不同于存储器中原有数值的值，对复测不正常或者测试结果为失效的芯片的内嵌存储器中相应位置保持原有的值。