[发明专利]浮起高度测量装置及测量方法无效

专利信息
申请号: 200610107858.3 申请日: 2006-07-26
公开(公告)号: CN101034551A 公开(公告)日: 2007-09-12
发明(设计)人: 今村孝浩;横畑徹 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G11B5/012 分类号: G11B5/012;G11B5/60;G11B21/21
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 黄纶伟
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 浮起高度测量装置及测量方法。提供了一种新的用于无需特定磁象而测量读取头的浮起高度的装置,即,一种用在包括读取头的盘驱动器内的读取头浮起高度测量装置,包括:信号重放单元(300),用于重放来自读取头的信号;滤波器单元(320,322),连接到所述信号重放单元,用于对经重放的信号进行滤波;振幅检测单元(330,332),连接到多个滤波器单元中的每一个,用于从经滤波的重放信号中检测最大振幅或接近该最大振幅的代表值;以及计算单元(340),用于利用所述振幅检测单元所检测到的最大振幅或接近该最大振幅的代表值来计算盘驱动器内的读取头的浮起高度。
搜索关键词: 浮起 高度 测量 装置 测量方法
【主权项】:
1、一种用在包括读取头的盘驱动器内的读取头浮起高度测量装置,包括:信号重放单元,用于重放来自读取头的信号;滤波器单元,连接到所述信号重放单元,用于对经重放的信号进行滤波;振幅检测单元,连接到各滤波器单元,用于从经滤波的重放信号中检测最大振幅或接近该最大振幅的代表值;以及计算单元,用于利用由所述振幅检测单元检测的最大振幅或接近该最大振幅的代表值来计算盘驱动器内的读取头的浮起高度。
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