[发明专利]一种测量PIN二极管反向恢复时间的方法无效
| 申请号： | 200610104114.6 | 申请日： | 2006-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN101118273A | 公开（公告）日： | 2008-02-06 |
| 发明（设计）人： | 吴茹菲;张海英;杨浩 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 周国城 |
| 地址： | 100029*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量PIN二极管反向恢复时间的方法，包括：A.测量N区少子寿命τp，设定正反向峰值电流If和Ir的比值；B.将测量出的N区少子寿命τp，以及设定的正反向峰值电流If和Ir的比值，代入超越方程计算反向电流保持恒定的存储时间tS和下降时间tf；C、计算存储时间tS和下降时间tf之和，得到反向恢复时间toff。利用本发明，可以用常规的实验仪器测量反向恢复时间。而用普通方法测量PIN二极管的反向恢复时间，需要正/负极性输出的快边沿脉冲信号源和宽带示波器。同时，本发明简化了测量工序，降低了测量的实现成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 pin 二极管 反向 恢复时间 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测量PIN二极管反向恢复时间的方法，其特征在于，该方法包括：A、测量N区少子寿命τp，设定正反向峰值电流If和Ir的比值；B、将测量出的N区少子寿命τp，以及设定的正反向峰值电流If和Ir 的比值，代入超越方程 erf ( t s τ p ) = I f I f + I r erf ( t f τ p ) + e - t f τ p π t f τ p = 1 + 0.1 I r I f ,
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