[发明专利]一种测量PIN二极管反向恢复时间的方法

权利要求书

1.一种测量PIN二极管反向恢复时间的方法，其特征在于，该方法包括：

A、测量N区少子寿命τ_p，设定正反向峰值电流I_f和I_r的比值；

B、将测量出的N区少子寿命τ_p，以及设定的正反向峰值电流I_f和I_r的比值，代入超越方程$\mathrm{erf}\left(\sqrt{\frac{t_s}{{\mathrm{\τ}}_p}}\right)=\frac{I_f}{I_f+I_r}$和$\mathrm{erf}\left(\sqrt{\frac{t_f}{{\mathrm{\τ}}_p}}\right)+\frac{e^{\frac{{-t}_f}{{\mathrm{\τ}}_p}}}{\sqrt{\mathrm{\π}\frac{t_f}{{\mathrm{\τ}}_p}}}=1+0.1\frac{I_r}{I_f},$计算反向电流保持恒定的存储时间t_s和下降时间t_f；

C、计算存储时间t_s和下降时间t_f之和，得到反向恢复时间t_off。