[发明专利]垂直PNP晶体管及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200610101301.9 申请日: 2006-07-14
公开(公告)号: CN1901197A 公开(公告)日: 2007-01-24
发明(设计)人: B·T·弗格利;P·B·格雷 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: H01L27/082 分类号: H01L27/082;H01L21/8222
代理公司: 北京市中咨律师事务所 代理人: 于静;刘瑞东
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明涉及一种器件结构,该结构位于半导体衬底中并且包括高性能垂直NPN和PNP晶体管。具体地说,垂直PNP晶体管具有发射极区域,并且垂直NPN晶体管具有本征基极区域。垂直PNP晶体管的发射极区域和垂直NPN晶体管的本征基极区域位于单个含硅锗层中,并且它们都包括单晶硅锗。本发明还涉及制造这样的器件结构的方法,该方法基于用于CMOS和双极器件的常规制造工艺的间接修改,具有很少或没有附加工艺步骤。
搜索关键词: 垂直 pnp 晶体管 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种位于半导体衬底中的器件结构,包括:垂直PNP晶体管,具有发射极区域;以及垂直NPN晶体管,具有本征基极区域,其中所述垂直PNP晶体管的发射极区域和所述垂直NPN晶体管的本征基极区域都包括单晶结构并且都位于单个含硅锗层中。
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