[发明专利]CMOS图像传感器及其制造方法无效
申请号: | 200610083371.6 | 申请日: | 2006-06-06 |
公开(公告)号: | CN1877848A | 公开(公告)日: | 2006-12-13 |
发明(设计)人: | 全寅均 | 申请(专利权)人: | 东部电子株式会社 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H01L21/822 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 顾晋伟;刘继富 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 公开了一种CMOS图像传感器及其制造方法。本CMOS图像传感器包括:包括有源区的半导体基片,其中光电二极管区和晶体管区限定于所述有源区中;形成于有源区上的栅电极,栅绝缘层插入栅电极和有源区;形成于在栅电极一侧的晶体管区中的第一扩散区,所述第一扩散区用作晶体管的源或漏区,并包括第一导电型的掺杂剂;形成于在栅电极另一侧的光电二极管区中的第二扩散区,所述第二扩散区包括第一导电型的掺杂剂;形成于栅电极两侧上的一对绝缘侧壁;以及形成于光电二极管区中的第二扩散区之上的第三扩散区,所述第三扩散区延伸到接近光电二极管区的绝缘侧壁之一以下的区,并包括第二导电型的掺杂剂。 | ||
搜索关键词: | cmos 图像传感器 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种CMOS图像传感器,包括:半导体基片,包括有源区,其中光电二极管区和晶体管区限定于所述有源区中;栅电极,形成于所述有源区上,栅绝缘层插入所述栅电极和所述有源区;第一扩散区,形成于在所述栅电极一侧的所述晶体管区中,所述第一扩散区用作晶体管的源或漏区,并包括第一导电型的掺杂剂;第二扩散区,形成于在所述栅电极另一侧的所述光电二极管区中,所述第二扩散区包括所述第一导电型的掺杂剂;一对绝缘侧壁,形成于所述栅电极两侧上;以及第三扩散区,形成于所述光电二极管区中的第二扩散区之上,所述第三扩散区延伸到接近所述光电二极管区的绝缘侧壁之一以下的区,并包括第二导电型的掺杂剂。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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